隨著電子產品日新月異的發(fā)展，在產品品質提高同時，半導體高低溫循環(huán)器產品價格的下降也越來越被消費者重視。為了降低電子產品的價格，先需要降低核心芯片的生產成本。

　　半導體高低溫循環(huán)器測試費用是生產成本的重要組成，其中測試平臺的成本直接影響測試費用，半導體高低溫循環(huán)器經過清洗，用測試，前氧傳感器顯示值和以前一樣，怠速時后氧傳感器顯示值在之間變化，說明后氧傳感器已經恢復正常。清除故障碼，OBD警告燈熄滅。

　　半導體高低溫循環(huán)器需對不同的故障一一針對性解決，通過分析我們得出造成該半導體高低溫循環(huán)器故障的主要原因是三元催化器堵塞，氣門、活塞頂面積炭，進行“二清”,清除故障碼，此半導體高低溫循環(huán)器過程中OBD警告燈點亮，同時出現發(fā)動機加速無 力的故障便解決了。通過排除此故障，我們得出今后再遇到半導體高低溫循環(huán)器排氣質量惡化或發(fā)動機缺火損壞三元催化器，導致OBD警告燈點 亮或閃亮的情況，應利用OBD系統故障碼和數據流進行診斷，對癥修理，以提高維修效 率并為顧客降低維修成本。

　　透過半導體高低溫循環(huán)器檢測其功能項來進行判斷。如果所有的功能項均測試合格，則該芯片為良品。若有一項不通過，則為不良品。在測試該功能項之前，半導體高低溫循環(huán)器通過測試程序將芯片上輸入輸出通道通道打開，并且輸入頻率為 1KHZ，振幅為±2V的正弦波，然后對輸出波形進行采集，比較。

　　用戶在購置半導體高低溫循環(huán)器時，需要考慮其半導體高低溫循環(huán)器運行成本，選擇更好方式，大大縮短其測試成本。